その他材料評価装置
SEM、光学顕微鏡等
その他の設備
各装置名をクリックすると、外観写真と主な仕様がご覧になれます。
| 走査型電子顕微鏡（SEM） | 20000倍までの表面微細構造観察 |
|---|---|
| 光学顕微鏡 | 1000倍までの表面組織観察 |
| ビッカース硬度計 | 最大荷重：50 kgf 圧痕サイズ：1 μm |
| 微小硬度計 | 最小荷重：0.2 kgf 圧痕サイズ：0.1 μm |
| ピクノメータ（真密度測定装置） | Heを用いて乾式で真密度を測定 |
走査型電子顕微鏡（SEM)
【製造元】 日本電子株式会社
【型 式】 JSM-5200
【加速電圧】 25 KV
【実用最高倍率】 20000倍
光学顕微鏡
【製造元】 株式会社ニコン
【型 式】 LV150
【最高倍率】 1000倍
ビッカース硬度計
【製造元】 株式会社ミツトヨ（旧株式会社アカシ）
【型 式】 AVK-A2
【試験加重】 1～50 kgf
【圧痕寸法】 1 μm
【圧 子】 ダイヤモンド
微小硬度計
【製造元】 株式会社ミツトヨ（旧株式会社アカシ）
【型 式】 MVK-G3
【試験加重】 0.2～2000 gf
【圧痕寸法】 0.1 μm
【圧 子】 ダイヤモンド
ピクノメータ（真密度測定装置）
Heを用いて乾式で真密度を測定
【製造元】カンタクローム・インスツルメンツ・ジャパン合同会社（旧ユアサアイオニクス株式会社）